直讀式鐵損測試儀觸摸式鐵損測試儀鐵損測試儀

產(chǎn)品簡介：

觸摸式按鈕設計。
測量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測試探頭配置，小探頭Z小測試寬度8mm以上。

產(chǎn)品型號：JC03-DAC-IR-3

更新時間：2024-05-19

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：1346

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

檢測分析儀器

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產(chǎn)品介紹

直讀式鐵損測試儀 觸摸式鐵損測試儀 鐵損測試儀

型號:JC03-DAC-IR-3

【特征】

觸摸式按鈕設計。

測量精度≤±5% （JIS Epstein方法比較）。

磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。

大和小雙測試探頭配置，小探頭zui小測試寬度8mm以上。

RS-232C通訊接口，可外接小型打印機（增選件）。

【功能】

·測試范圍：0.10～19.99 W/kg；

·磁通密度：1.0T、1.5T、1.7T；

·試樣厚度：0.05～0.99mm；

·試樣寬度：zui小2mm （5mm以上保證設計精度，形狀不規(guī)則（非長方形）的復雜沖壓片，可任意設定相近的有效寬度）；

·測試精度：≤±5% （JIS Epstein方圈法比較）；

·測試頻率：50Hz/60Hz；

·使用電源：AC100-240V。

【尺寸重量】

·主機（81M/DAC-IR-3）尺寸:W（188）×H（103）×D（287） mm

·重量：主機約5 Kg

北京北信未來電子科技中心

：

：王華

：www.lcs168.com

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觸摸式按鈕設計。測量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。大和小雙測試探頭配置，小探頭Z小測試寬度8mm以上。

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測量精度≤±5% (JIS Epstein方法比較)。
磁通密度按1.0/1.5/1.7T三檔切換。
大和小雙測試探頭配置，小探頭Z小測試寬度8mm以上。